← wróć do strony głównej
7969 wykaz 2019

Ieee Transactions on Device and Materials Reliability

Ieee Transactions on Device and Materials Reliability

70
punktów MNiSW

Dostaniesz e-mail, gdy zmieni się punktacja tego czasopisma w nowym wykazie. Zapisując się, akceptujesz politykę prywatności.

ISSN / eISSN
1530-4388 / 1558-2574
Wydawca
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Kolor Open Access
zielony
Z importu Sherpa/Romeo z 15.01.2020, mogło się zmienić - sprawdź aktualną politykę.